產品詳情
簡單介紹：
M1標準磁粉探傷試片符合JB4730.4-2005標準，用于驗證磁粉探傷的綜合性能。一套包含2片。是磁粉探傷的常用備件。
詳情介紹：
M1標準磁粉探傷試片用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉、磁懸液的綜合性能（系統(tǒng)靈敏度），及磁化方向、有效磁化范圍和大致的有效磁場強度以及考察所采用的探傷工藝規(guī)程。
A1型磁粉標準試片按HB/T6065-04標準制作，是磁粉探傷必備的工具。
規(guī)格：-15/100
-30/100
-60/100
-7/50
-15/50
-30/50
后三種適用于有曲率的探傷面。
其他試片有C2型，D1型。
A1型磁粉標準試片按HB/T6065-04標準制作，是磁粉探傷必備的工具。
規(guī)格：-15/100
-30/100
-60/100
-7/50
-15/50
-30/50
后三種適用于有曲率的探傷面。
其他試片有C2型，D1型。